Wzorcowanie aparatury pomiarowej

Nowoczesne podejście do wymagań współczesnej metrologii! Nowe, zaktualizowane wydanie popularnego poradnika z zakresu metrologii, w którym przedstawiono: aktualne wzorce pierwotne podstawowych jednostek miar, wzorce pomiarowe i badanie jednolitości miar; podstawowe pojęcia metrologii, procedury zapewnienia jedności miar, procedury wzorcowania przyrządów pomiarowych i badania aparatury pomiarowej; Czytaj więcej

więcej parametrów

O książce

Nowoczesne podejście do wymagań współczesnej metrologii! Nowe, zaktualizowane wydanie popularnego poradnika z zakresu metrologii, w którym przedstawiono: aktualne wzorce pierwotne podstawowych jednostek miar, wzorce pomiarowe i badanie jednolitości miar; podstawowe pojęcia metrologii, procedury zapewnienia jedności miar, procedury wzorcowania przyrządów pomiarowych i badania aparatury pomiarowej; zasady tworzenia schematów sprawdzań wzorców i narzędzi pomiarowych; aspekty niepewności wyników pomiarów i procedur wyznaczania niepewności, wstępne opracowanie wyników kalibracji oraz procedury estymacji charakterystyk liniowych i nieliniowych, jedno- i wielowymiarowych przy różnych właściwościach błędów; badanie metod analitycznych oraz badania międzylaboratoryjne procedur wzorcowania; aspekty komputeryzacji procedur kalibracji i obsługi laboratorium; sprawdzanie (walidację) metod badania i wzorcowania; laboratoria akredytowane oraz zagadnienia prawnej kontroli metrologicznej i oceny zgodności; przykład księgi jakości laboratorium spełniającego wymagania normy PN-EN ISO/IEC 17025:2005.

W porównaniu do poprzedniego wydania w wielu rozdziałach wprowadzono zmiany i uzupełnienia. W rozdziale o jednostkach miar, wzorcach pomiarowych i badaniu jednolitości miar uwzględniono postęp prac nad ustanowieniem nowego (kwantowego) układu jednostek miar SI oraz kierunki prac prowadzonych nad realizacją nowych (kwantowych) etalonów. Opisano też komputerowe wspomaganie procedur wzorcowania. Dokonano aktualizacji przepisów prawnych i norm, co było szczególnie istotne przy omawianiu zasad i uwarunkowań badania biegłości laboratorium wzorcującego, które jest obecnie obwarowane nowymi przepisami i jest pod nadzorem organizacji międzynarodowych.

Książka jest adresowana zarówno do studentów uniwersytetów (na wydziałach fizyki i chemii), jak i politechnik, oraz do pracowników naukowych i inżynierów zajmujących się budową aparatury pomiarowej oraz jej stosowaniem we wszystkich dziedzinach od mechaniki, elektrotechniki po chemię fizyczną i analityczną.

Dane szczegółowe

Identyfikator produktu
691462
Tytuł
Wzorcowanie aparatury pomiarowej
Język
polski
Język oryginału
polski
Liczba stron
460
Typ okładki
twarda
Wydanie
2
Data premiery
2012-10-24
Rok wydania
2012
Wymiary
240 x 167
Waga
0.98 kg
Wysokość
170 mm
Długość
240 mm
Głębokość
170 mm
Szerokość
168 mm
Nasza cena
111,09 zł
Bądź pierwszy!
Twoja recenzja produktu “Wzorcowanie aparatury pomiarowej” będzie bardzo przydatna dla innych użytkowników.
Recenzje produktów są zarządzane przez stronę trzecią w celu weryfikacji autentyczności i zgodności z naszymi wytycznymi dotyczącymi ocen i recenzji
Recenzje
Każdą z recenzji weryfikujemy na trzy sposoby:
  • Klient zweryfikowany
    Autorzy recenzji z tym oznaczeniem są naszymi klientami. Kupili ten produkt w sklepie tantis.pl.
  • Klient niezweryfikowany
    Autorzy recenzji z tym oznaczeniem są naszymi użytkownikami, ale nie możemy potwierdzić, że kupili ten produkt w sklepie tantis.pl.
  • Recenzja Zweryfikowana
    Potwierdzamy, że prezentowana opinia może dotyczyć danego produktu i zawiera elementy jego recenzji.
Dostawa i płatność
Udostępnij produkt
Wstaw link na:
lub skopiuj link
Dodano do koszyka