Wykorzystanie technik sztucznej inteligencji w...

Streszczenie

Wykaz podstawowych skrótów i oznaczeń

1. Wstęp

1.1. Ogólne zasady uwzględniania fluktuacji wartości parametrów elementów w procesie projektowania układów elektronicznych

1.2. Sposoby poprawy jakości projektu przy fluktuacji jego parametrów

1.3. Główne metody rozwiązywania problemu "centrowania" i optymalizacji uzysku

1.4. Podsukowanie

2. Podstawowe problemy w projektowaniu monolitycznych układów scalonych związane z rozrzutem wartości ich parametrów

2.1. Rodzaje układów scalonych z punktu widzenia specyfiki projektowania

2.2. Zjawiska negatywne występujące w układach scalonych

2.3. Podsumowanie

3. Związek modelu układu elektronicznego z metodą optymalizacji - przegląd metod optymalizacji uwzględniających rozrzuty wartości parametrów

3.1. Metody deterministyczne

3.2. Optymalizacja układu elektronicznego z modelem statystycznym układu

3.3. Podsumowanie

4. Wybrane problemy optymalizacji projektu układu elektronicznego przy pomocy sztucznych sieci neuronowych

4.1. Przyczyny stosowania SSN w rozwiązaniu zagadnienia optymalizacji

4.2. Sposoby optymalizacji z zastosowaniem SSN

4.3. Przykład zastosowania SSN w zadaniu optymalizacji

4.4. Podsumowanie

5. Systemy wnioskowania rozmytego w projektowaniu układów elektronicznych

5.1. Przyczyny zainteresowania zastosowaniami systemów rozmytych do optymalizacji układów elektronicznych

5.2. Podstawowe wiadomości z logiki rozmytej i zbiorów rozmytych

5.3. Przykład projektowania układu elektronicznego wspomaganego systemem wnioskowania rozmytego

5.4. Podsumowanie

6. Wybrane metody poprawy własności projektu układu elektronicznego wykorzystujące funkcje wrażliwości i sztuczną sieć neuronową

6.1. Zalety podejścia projektowania dedykowanego (dla wybranej klasy układów elektronicznych) wykorzystujące metody sztucznej inteligencji

6.2. Optymalizacja w układach filtrów IRS wyższych rzędów

6.3. Przykłady zastosowań metody

6.4. Podsumowanie

7. Uwagi końcowe

Literatura

Summary